Труды ФТИАН. Том 20. Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика
Артикул:581323
ISBN:
978-5-02-036976-4
Автор:
-
Год издания:
2009
Издательство:
Наука
Название:
Труды ФТИАН. Том 20. Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика
Серия:
-
Труды ФТИАН. Том 20. Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика
≈ 548,00 руб.
Проверить наличие и купить по самой выгодной цене:






Товар можно купить в книжных интернет-магазинах, указанных выше.
Цена при переходе на сайт интернет-магазина может отличаться как в большую, так и в меньшую сторону! Указанная цена была актуальна на дату последнего обновления каталога.
Реклама. Рекламодатель ООО "Лабиринт.Ру" / ИНН 7728644571 / Labirint.ru / Erid: 2VtzqwQYCqU
Реклама. Рекламодатель ООО "Магазин книг" / ИНН 9725076959 / My-shop.ru / Erid: AX1LYwMgKUvoDX6y
Реклама. Рекламодатель ООО "Новый Книжный Центр" / ИНН 7710422909 / Chitai-gorod.ru / Erid: 2Vtzqufp5tz
Реклама. Рекламодатель ООО "Новый Книжный Центр" / ИНН 7710422909 / Book24.ru / Erid: 2VtzqvPNRe6
Реклама. Рекламодатель ООО "Новый Книжный Центр" / ИНН 7710422909 / Bookvoed.ru / Erid: LatgBqrsQ
Реклама. Рекламодатель ООО "Литрес" / ИНН 7719571260 / Litres.ru / Erid: 2Vtzqx9kwnn
Реклама. Рекламодатель ООО "Клевер-Медиа-Групп" / ИНН 7717567452 / Clever-media.ru / Erid: LatgBnRdu
Сборник, посвященный 20-летию Физико-технологического института РАН, включает в себя статьи по актуальным проблемам микро- и наноэлектроники, микро- и наноэлектромеханики и твердотельных квантовых компьютеров. Рассмотрены перспективы реализации полномасштабных квантовых компьютеров на ионных ловушках в твердотельных структурах, проанализирован перенос электрона в одномерных многоямных структурах. Особое внимание уделено важнейшим вопросам физики и моделирования нанотранзисторов (кремниевые в ультратонком кремнии на изоляторе, туннельные, с графеновым каналом и др.). Исследованы межподзонные оптические переходы в структурах с разрывом запрещенной зоны. Представлены статьи по моделированию электромиграционного разрушения тонкопленочных проводит ков, прочности границы соединенных материалов в зависимости от их микроструктуры и содержание точечных дефектов, моделированию каналов нейтрализации источников пучков быстрых нейтралов, дается обзор плазменных процессов в технологии МЭМС. Для специалистов в области микро- и наноэлектроники.
ISBN
978-5-02-036976-4
Автор
-
Год издания
2009
Издательство
Наука
Название
Труды ФТИАН. Том 20. Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика
Серия
-